Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Coordenadora: Ana Candida de Almeida Prado (UFCA)

Apoio:
Malvern Panalytical, Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais da Universidade Federal do Cariri (PPGCEM/UFCA) e LRX/UFC

Realização:
Universidade Federal do Cariri e Fundação ASTEF

Participantes:

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrante:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas nas dependências da Universidade Federal do Cariri.

Universidade Federal do Cariri
Av. Tenente Raimundo Rocha Nº 1639
Bairro Cidade Universitária
Juazeiro do Norte – Ceará
CEP 63048-080

Público Alvo:
Docentes, Técnicos e Estudantes de Mestrado e Doutorado e demais profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (15/08/2025):
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSdqsaFh-VGFWBbrdyAVMsPre2sBLSPu5EYjedOoQ9VN3WG9rw/viewform?usp=dialog

Serão oferecidas somente 30 vagas.

Taxa de inscrição até 15/09/2025
Estudantes de graduação – R$ 50,00
Estudantes de pós-graduação – R$ 150,00
Técnicos de instituições de ensino – R$ 200,00
Docentes ou profissionais da indústria – R$ 300,00

Taxa de inscrição entre 16/09/2025 e 01/10/2025
Estudantes de graduação – R$ 75,00
Estudantes de pós-graduação – R$ 200,00
Técnicos de instituições de ensino – R$ 275,00
Docentes ou profissionais da indústria – R$ 400,00

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
Tel: (85) 3366-9917/9013 e (88) 3221-9572
e-mail: ana.prado@ufca.edu.br

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (dez).

Programação do Curso:
6/10/2025 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

7/10/2025 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do novo difratômetro de raios-x Xpert Panalytical instalado no Laboratório de Raios-X (Departamento de Física-UFC) e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

8/10/2025 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

9/10/2025 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

10/10/2025 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software da Panalytical HighScore.
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.