XVI Método Rietveld em Fortaleza (3-7 de agosto de 2026)

XVI Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
3 a 7 de Agosto de 2026
Fortaleza – CE

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
MSc. Francisco Willame C. de Vasconcelos
Monitores: Lidia Quirino Rodrigues e Paulo Herbert F. Maia Junior
Coordenador: José Marcos Sasaki

Apoio:
Dairix, Dotlib e Laboratório de Raios-X

Realização:
UFC, Fundação ASTEF e NUTEC

Participantes:
1 Adriano dos Guimarães de Carvalho
2 Ari Lucas Santos Oliveira
3 Bruna Rafaela Silva Ibiapina
4 Camila Rêgo de Andrade
5 Carlos Maurício de Sousa
6 Cláudio de Oliveira Almeida Castro
7 Daniel de Abreu Cesidio
8 Erika Patricia Chagas Gomes Luz
9 Evilarde Carvalho Uchoa Filho
10 Fagner Campos dos Santos
11 Francisco Romero Araújo Nogueira
12 Gabrieli Lessa Parrilha
13 Gustavo Vieira Freire
14 Jérsica Lima Bezerra
15 Laura Jineth Zipa Romero
16 Leonardo Marchiori
17 Leonídio Rodrigo Fernandes Custodio
18 Lucas Medeiros de França
19 Lwzardy Antônio Freitas de Azevedo
20 Maria Natália Mouta de Oliveira
21 Maria Zilda Oliveira
22 Patricia dos Santos Rocha Gomes
23 Ricardo Francisco Alves
24 Rosembergue Gabriel Lima Gonçalves
25 Theresa Beatriz Oliveira Nunes
26 Thiago Dias de Araújo e Silva

Fotos:

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

MSc. Francisco Willame Coelho de Vasconcelos – Graduado em Licenciatura Plena em Física pela Faculdade de Educação Ciências e Letras do Sertão Central – FECLESC/UECE, Mestre em Engenharia e Ciência de Materiais pela Universidade Federal do Ceará – UFC e atualmente doutorando em Engenharia em Ciências de Materiais pela mesma instituição. Membro dos laboratórios de Difração de Raios-X da UFC e do Laboratório de Fotônica – IFCE. Experiência abrange a área de Física e Engenharia de Materiais, com foco em difração de raios-X, caracterização de nanopartículas magnéticas, método Rietveld e desenvolvimento de sensores magnéticos e de corrente utilizando fibras ópticas.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas no Auditório Telmo Bessa (NUTEC).
NUTEC-Núcleo de Tecnologia e Qualidade Industrial do Ceará
https://www.nutec.ce.gov.br/
R. Prof. Rômulo Proença, s/n – Bairro Pici
CEP: 60440-552 Fortaleza – CE
Fone: (85) 98105-7481

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (3/7/2026):
WhatsApp Image 2026-04-30 at 16.59.23
https://forms.gle/nmt9oWb8CUs39KPE9

Data limite da inscrição (31/7/2026):
http://www.fastef.ufc.br
Serão oferecidas somente 20 vagas.

Taxa de inscrição:
-Até 31/7/2026
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 300,00 (trezentos reais)

-Após 31/7/2026
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 350,00 (trezentos e cinquenta reais)

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Os professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC deverão trazer 2 latas de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 380g). Os alimentos serão doados ao Instituição Espírita Nosso Lar, Av. Carapinima, 2424, Benfica, Fortaleza – CE, CNPJ: 07.287.865/0001-20, Fone: (85) 98152-8395/(85) 3206.3550, (https://www.nossolarhospital.com.br/),

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.fastef.ufc.br
Tel: (85) 3366-9612/98818-4114/99177-3788

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 10 (dez).

Programação do Curso:
3/8/2026 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

4/8/2026 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-x SmartLab (Rigaku) instalado no NUTEC e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

5/8/2026 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

6/8/2026 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

7/8/2026 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software SmartLab Studio (Exemplos de aplicação da Rigaku/Dairix).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

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J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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