6 a 10 de Julho de 2015
Fortaleza – CE
Instrutores: Prof. José Marcos Sasaki (UFC), Prof. Carlos O. Paiva-Santos (Instituto de Química-UNESP), Dr. Cássio Morilla dos Santos (Dep. Física-UFC)
Monitores: Msc. Ana Claudia Abreu, Guilherme Vieira, Diego Felix Dias
Coordenador: José Marcos Sasaki (UFC)
Segunda | Terça | Quarta | Quinta | Sexta | |
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Manhã |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 Parte 4 |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 Parte 4 |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 Parte 4 |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 Parte 4 Parte 5 |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 |
Tarde |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 |
Parte 1 |
Parte 1 Parte 2 Parte 3 |
Parte 1 Parte 2 |
Participantes
1 Aline Rossetto da Luz
2 André Oliveira Guimarães
3 Carla de Albuquerque Dias
4 Carlos Alberto Andrade dos Santos
5 Carlos Ednardo Alves Pereira
6 Davino Machado Andrade Neto
7 Edilan Silva Lima
8 Geanso Miranda de Moura
9 Geraldo Alves Sobral Júnior
10 Jairo Rufino Marques
11 Kelly Cristiane Gomes da Silva
12 Laylla Kessia Rodrigues Arruda Costa
13 Leonardo Leandro dos Santos
14 Luciana Mendes Ribeiro de Sousa
15 Luciane Sopchenski Santos
16 Luís Presley Serejo dos Santos
17 Maria Tereza Fabbro
18 Nehemias Rodrigues De Alencar Júnior
19 Nelson Agapito Brandão Rios
20 Paloma Vinaches Melguizo
21 Querem Hapuque Felix Rebelo
22 Rafael Leal da Silva
23 Raimundo Nazareno da Silva Conceição Filho
24 Soraya Lira Alencar
25 Thainara Freires Rodrigues
26 Valdivânia Albuquerque do Nascimento
Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização do programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.
Instrutores:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Carlos O. Paiva-Santos (Doutor) É professor de física no Instituto de Química da Universidade Estadual Paulista em Araraquara. Trabalha desde 1987 com o método de Rietveld e desde 1994 é co-autor do programa da série `DBWS…`, de refinamento de estrutura pelo método de Rietveld, largamente utilizado em todo o mundo. Desde 1996 vem ministrando cursos e tem publicado e realizado palestras mostrando potencialidades de suas aplicações. Coordenador do LabCACC até junho de 2012 (labcacc.iq.unesp.br).
Cássio Morilla-Santos (Doutor) é Físico e pós graduado em Ciência e Tecnologia de Materiais, atuando na síntese por meio de rotas Sol-Gel e na caracterização estrutural por difração de raios x associado ao refinamento Rietveld. Atualmente faz pós-doutorado no Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará, com nanopartículas de FeNi e FeCo.
Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Computação (Bloco 927) do Departamento de Física e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD – Panalytical)
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios-X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.
Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas
Pré-inscrição:
• Preencher o formulário de pré-inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br/
Serão oferecidas somente 30 vagas. A seleção entre os inscritos ficará a cargo do coordenador do curso.
* Todos 30 participantes terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer duas latas (400g cada lata) de leite em pó. Os alimentos serão doados
ao Iprede (Instituto da Primeira Infância), R. Carlos Lobo, 15 – Cidade dos Funcionários, Fortaleza/CE, CEP 60821-740, Tel (85) 3218-4000. (www.iprede.org.br)
• É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).
Programação do Curso:
• 6/6/2015 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.
• 7/7/2015 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa DBWS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 8/7/2015 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 9/7/2015 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 10/7/2015 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
18:30 – Confraternização
Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.
Apoio:
Realização: