Difração de Raios X e Refinamento de Estrutura pelo Método Rietveld (Caruaru/PE, 21 a 25 de Janeiro 2019)

Local: Universidade Federal de Pernambuco – UFPE
Centro Acadêmico do Agreste – CAA

Coordenadora: Profa. Érika Pinto Marinho

Participantes
1 AGILSON NASCIMENTO DE SOUZA
2 Alisson Douglas Mota de Lima
3 Cassiana Mendonça dos Santos
4 Givanildo Alves de Azeredo
5 Glenda Lira Santos
6 HENRIQUE SERGIO SANTOS DE LIRA
7 Humberto Mycael Mota Santos
8 Jofre Silva Lima
9 Jonatercio Florêncio de Vasconcelos Marinho
10 Marcelo Tavares Gomes de Souza
11 Marcio Couceiro Saraiva de Melo
12 Maria Natali Gomes dos Santos
13 Rafaella de Moura Medeiros
14 Ricardo Henrique de Lira Silva
15 Rodrigo Araujo Pereira Lima
16 Romildo Alves Berenguer
17 Yago Ryan Pinheiro dos Santos

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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