X Método Rietveld (Fortaleza/CE, 8 a 12 de Julho de 2019)

X Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
8-12 de Julho de 2019
Fortaleza – CE

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Dr. Vera Lucia Mazzocchi (IPEN-CNEN)
Monitores: Hyuan Peixoto Farrapo e Isabela Oliveira e Silva
Coordenador: Jose Marcos Sasaki

Participantes
1 Aldebarã Fausto Ferreira
2 Bruno Sousa Araújo
3 Cintia Hisano
4 Edinaldo Batista da Silva Junior
5 Elisane Longhinotti
6 Emanoel José Ferreira da Conceição
7 Francine Machado Nunes
8 Gleison Neres Marques
9 Ian Felipe Sousa Reis
10 Jeferson Leandro Klug
11 Jessica Miranda Abreu Freire
12 Juan Simon Rodriguez Hernandez
13 Laudenor Amorim
14 Maitê Medeiros de Santana e Silva
15 Manoel Henrique Bezerra Júnior
16 Marcos Antonio Padilha Júnior
17 Maria Angelica Freitas Matos
18 Maurício de Sousa Pereira
19 Nathália Dias da Cunha Santana
20 Pabllo Henrique Costa dos Santos
21 Rayane Ricardo da Silva
22 Rayara do Socorro Souza da Silva
23 Renata Rodrigues da Hora
24 Roberta Araujo Cavalcante de Menezes
25 Rodrigo Honorato Cunha
26 Rogério Baria Ribeiro
27 Sebastião Júnior Teixeira Vasconcelos
28 Yana Luck Nunes
29 Yessica Acosta Urian

Apoio:
MALVERN PANALYTICAL-LOGO-FC

Realização:
LogoFASTEF
lrx

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Vera Lucia Mazzocchi – É pesquisadora do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-CNEN/SP), em São Paulo, desde 1985. Trabalha desde 1990 com refinamentos de estruturas cristalinas e magnéticas, utilizando o método de Rietveld, com dados de difração de nêutrons, raios-X convencional e radiação síncrotron. Atualmente é responsável pelo Laboratório de Difratometria de Nêutrons do IPEN.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala 12 (bloco 717) do Centro de Tecnologia e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD – Panalytical)

Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (28/5/2019):
https://goo.gl/forms/Gufv9CPiwnUL9Yck1

Data limite da inscrição (30/6/2019):
http://www.fastef.ufc.br

• Serão oferecidas somente 30 vagas.

Taxa de inscrição:
Até 30/06/2019
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica R$ 250,00 (duzentos e cinquenta reais)
Professores universitários e técnicos das indústrias R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)

Após 30/06/2019
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica R$ 300,00 (trezentos reais)
Professores universitários e técnicos das indústrias R$ 2.000,00 (dois mil reais)

- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
- As 10 primeiras inscrições de professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer dois pacotes de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 800g). Os alimentos serão doados ao IPREDE-Instituto da Primeira Infância (Rua Professor Carlos Lobo, 15 – Cidade dos Funcionários, Fortaleza – CE, 60821-740- Tel. (85)3218-4000)

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/

http://www.fastef.ufc.br

Tel: (85) 3366-9612/98818-4114/99177-3788 (Dalva ou Alessandra)

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).

Programação do Curso:
• 8/7/2019 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 9/7/2019 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no Laboratório de Raios X/PANalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 10/7/2019 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 11/7/2018 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 12/7/2019 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo programa HighScore (Leandro Almeida – Especialista em aplicação XRD-Malvern Panalytical).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura.
18:30 – Confraternização.

Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

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J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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