Curso sobre Caracterização de Materiais Policristalinos: Análise Quantitativa de Fases Cristalinas – Método Rietveld (CETEC – Belo Horizonte/MG) – 2010

04-08 de Outubro de 2010

Lista dos participantes

Alexandra Ap. Faria Ferreira
Antonio Alves Mendes Filho
Bruno Cordeiro Silva
Geovana Dresch Webler
Jacqueline Amanda Figueiredo Santos
Luiz Carlos B. de Miranda P
Marcelo Ferreira
Maxmiliano Moreno Zapata
Pedro Henrique Dutra
Renato Alves Pereira
Ricardo Luiz Ribeiro
Roberta Viana Ferreira
Silas Barbosa Diniz
Valdirene G. de Resende
Vitor José Pinto Gouveia
Weber Guadamini Moravia
Yaro Moises Parzak Silva

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J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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