V Método Rietveld em Natal/RN (4-8 de Maio de 2026)

V Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
4-8 de Maio de 2026
Natal – RN

Palestrante:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Coordenadores: prof. Tiago Pinheiro Braga (UFRN) e profa. Ana Cecília Vieira da Nóbrega (UFRN)

Apoio:
LRX/UFC

Realização:
UFRN e PROEX

Participantes:
Amanda Menezes Caldas Monastirski
Andrielle Gomes da Silva
Angelo Araújo Soares
Daniel Rodrigues Freire Ramos
Gleidson dos Santos Melo
Joel Rodrigues Silva
Leydson Wendell Carneiro da Silva
Luis Paulo Alves da Silva
Magno Klebson Augustinho Sena
Maria José Santos Limas
Mariana Alves Leite Dutra
Rafael Sávio Ribeiro de Oliveira

Fotos

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrante:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de informática no Instituto de Química 3 (segundo andar) do Centro de Ciências da UFRN e aulas práticas no Laboratório de Raios-X do LABCIM (Instituto de Química 2) do Centro de Ciências.

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuem em grupos de pesquisa que trabalham com difração de Raios X com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (05-04-2026):

Data limite da inscrição (1/5/2026):

Serão oferecidas somente 20 vagas.

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
tiago.braga@ufrn.br

Programação do Curso:
4/5/2026 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

5/5/2026 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
-Apresentação do difratômetro de raios-x no Laboratório de Raios-X (LABCIM-UFRN) e aula prática de preparação de amostras.
-Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

6/5/2026 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

7/5/2026 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

8/5/2026 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
-Aula teórica sobre difração de neutrons/raios-X
-Determinação de estruturas cristalinas e estruturas magnéticas comensuráveis (CrSbSe₃.cif)
-Simulação de difração de nêutrons utilizando o GSAS-II
-Refinamento estrutural de uma ferrita do tipo espinélio, resolução da estrutura magnética.

17:00-Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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