V Curso do Método Rietveld (UFC – Fortaleza/CE)

Período: 11-15 de Março de 2013

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V Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
11 a 15 de Março de 2013
Fortaleza – CE
Instrutores: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
e Dra. Vera Lucia Mazzocchi (IPEN)
Monitores: Tereza Raquel Souza, Joel Pedrosa Sousa, Lucas Tasake Sasaki e Francisco José Lins Magalhães

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento DBWS e GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutores:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Vera Lucia Mazzocchi (Doutora) É pesquisadora do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-CNEN/SP), em São Paulo, desde 1985. Trabalha desde 1990 com refinamentos de estruturas cristalinas e magnéticas, utilizando o método de Rietveld, com dados de difração de nêutrons, raios-X convencional e radiação síncrotron. Atualmente é responsável pelo Laboratório de Difratometria de Nêutrons do IPEN.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Teleconferência UFC-Virtual (prédio NPD, bloco 901) e as aulas práticas no Laboratório de Raios-X (X-Pert MPD – Panalytical).
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios-X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Inscrição:
• Preencher o formulário de inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br

• Serão oferecidas somente 40 vagas: 10 vagas para participantes que irão utilizar o sistema de teleconferência e 30 vagas presenciais.
• As 10 primeiras inscrições de professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer dois quilos de alimento não perecível. Os alimentos serão doados para a Lar Amigos de Jesus (R Ildefonso Albano, 3052 – Joaquim Távora – Fortaleza – CE, CEP 60115-001- Tel. (85)3226-3447;3067-6565)
• É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Maiores Informações:

http://www.raiosx.ufc.br/site/

http://www.astef.ufc.br

Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 20 (vinte).

Programação do Curso:
• 11/3/2013 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 12/3/2013 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa DBWS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).

• 13/3/2013 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).

• 14/3/2013 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 15/3/2013 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS) difração de nêutrons.
14:00 – 18:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS) difração de nêutrons.
18:30 – Confraternização

Material Didático:
• Os participantes receberão no início do curso um “pendrive” contendo os programas que serão utilizados e uma pasta contendo apostila e notas de aula.