31 de Março a 4 de Abril de 2014
Fortaleza – CE
Instrutores: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Prof. Alan Silva de Menezes (UFMA)
Monitores:Tereza Raquel Souza, Marcelo Bruno de Almeida Veras, Matheus Falcão de Sousa, Adanny Filipe Nogueira Martins
Coordenador: José de Araujo Nogueira Neto (DGEO/UFC)
| Dia 31/3/2014 prof. Sasaki |
Dia 1/4/2014 prof. Sasaki |
Dia 2/4/2014 prof. Sasaki |
Dia 3/4/2014 prof. Alan |
Dia 4/4/2014 Msc. Renato |
| Parte 1 Abertura: prof. Zeca |
Parte 1 | Parte 1 | Parte 1 | Parte 1 |
| Parte 2 | Parte 2 | Parte 2 |
Participantes
1 Aldo de Almeida Oliveira
2 Angélica Belchior Vital
3 Antonia Alice Macêdo Soares
4 Arian Paulo de Almeida Moraes
5 Ariday Samit Mosquera Polo
6 Beatriz Pinheiro Bezerra
7 Camila Pacelly Brandão de Araujo
8 Caroline Gomes Moura
9 Caruline de Souza Carvalho Machado
10 Francisco Holanda Soares Junior
11 Glenda Quaresma Ramos
12 Heloina Nogueira da Costa
13 Henrique Duarte da Fonseca Filho
14 Icaro Rodrigues Lavor
15 Indira Aritana Fernandes de Medeiros
16 Janaína Sobreira Rocha
17 João Paulo de Freitas Grilo
18 João Victor Barbosa Moura
19 José Cardoso Batista
20 José Enedilton Medeiros Pereira
21 Litzy Lina Choquechambi Catorceno
22 Luciana de Pinho Pessôa Nogueira
23 Marcelo Nunes Coelho
24 Marcus Vinicius Beserra dos Santos
25 Maria José Santos Lima
26 Mariana Xavier Milagre
27 Mariana Zuliani Theodoro de Lima
28 Mohammad Masoumi
29 Raquel Milani
30 Rosane da Silva Toledo Manhães
31 Tácia Costa Veloso
32 Thiago Soares Ribeiro
Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento DBWS e GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.
Instrutores:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Alan Silva de Menezes (Doutor) É professor Adjunto do Departamento de Física da Universidade Federal do Maranhão (São Luis) desde março de 2012. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” da Unicamp no ano de 2010. Trabalha com crescimento de cristais e síntese de nanopartículas e utiliza o Método Rietveld desde 2001 na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente é Coordenador da Central Analítica de Materiais da UFMA.
Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Mineealogia (bloco 913) do Departamento de Geologia e aulas práticas no Laboratório de Raios-X (X-Pert MPD – Panalytical)
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios-X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.
Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas
Inscrição:
• Preencher o formulário de inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br
| Taxa de inscrição | Até 21/3/2014 | Após 21/3/2014 |
| Professores universitários e técnicos das indústrias | R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais) | R$ 2.000,00 (dois mil reais) |
| Alunos de pós-graduação e de iniciação científica | R$ 200,00 (duzentos reais) | R$ 250,00 (duzentos cinquenta reais) |
Serão oferecidas somente 30 vagas.
• As 10 primeiras inscrições de professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer duas latas (400g cada lata) de leite em pó. Os alimentos serão doados ao Iprede (Instituto da Primeira Infância), R. Carlos Lobo, 15 – Cidade dos Funcionários, Fortaleza/CE, CEP 60821-740, Tel (85) 3218-4000. (www.iprede.org.br)
• É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).
Programação do Curso:
• 31/3/2014 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.
• 1/4/2014 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa DBWS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
• 2/4/2014 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).
• 3/4/2014 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 4/4/2014 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA.
14:00 – 18:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA
18:30 – Confraternização
Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.
Apoio:
Realização:
