VI Curso do Método Rietveld (UFC – Fortaleza/CE, 31 de Março a 4 de Abril de 2014)

31 de Março a 4 de Abril de 2014

Fortaleza – CE

Instrutores: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)

Prof. Alan Silva de Menezes (UFMA)

Monitores:Tereza Raquel Souza, Marcelo Bruno de Almeida Veras, Matheus Falcão de Sousa, Adanny Filipe Nogueira Martins

Coordenador: José de Araujo Nogueira Neto (DGEO/UFC)

Dia 31/3/2014
prof. Sasaki
Dia 1/4/2014
prof. Sasaki
Dia 2/4/2014
prof. Sasaki
Dia 3/4/2014
prof. Alan
Dia 4/4/2014
Msc. Renato
Parte 1
Abertura: prof. Zeca
Parte 1 Parte 1 Parte 1 Parte 1
Parte 2 Parte 2 Parte 2

Participantes

1 Aldo de Almeida Oliveira

2 Angélica Belchior Vital

3 Antonia Alice Macêdo Soares

4 Arian Paulo de Almeida Moraes

5 Ariday Samit Mosquera Polo

6 Beatriz Pinheiro Bezerra

7 Camila Pacelly Brandão de Araujo

8 Caroline Gomes Moura

9 Caruline de Souza Carvalho Machado

10 Francisco Holanda Soares Junior

11 Glenda Quaresma Ramos

12 Heloina Nogueira da Costa

13 Henrique Duarte da Fonseca Filho

14 Icaro Rodrigues Lavor

15 Indira Aritana Fernandes de Medeiros

16 Janaína Sobreira Rocha

17 João Paulo de Freitas Grilo

18 João Victor Barbosa Moura

19 José Cardoso Batista

20 José Enedilton Medeiros Pereira

21 Litzy Lina Choquechambi Catorceno

22 Luciana de Pinho Pessôa Nogueira

23 Marcelo Nunes Coelho

24 Marcus Vinicius Beserra dos Santos

25 Maria José Santos Lima

26 Mariana Xavier Milagre

27 Mariana Zuliani Theodoro de Lima

28 Mohammad Masoumi

29 Raquel Milani

30 Rosane da Silva Toledo Manhães

31 Tácia Costa Veloso

32 Thiago Soares Ribeiro

Informações Gerais:

O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento DBWS e GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutores:

J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Alan Silva de Menezes (Doutor) É professor Adjunto do Departamento de Física da Universidade Federal do Maranhão (São Luis) desde março de 2012. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” da Unicamp no ano de 2010. Trabalha com crescimento de cristais e síntese de nanopartículas e utiliza o Método Rietveld desde 2001 na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente é Coordenador da Central Analítica de Materiais da UFMA.

Local:

As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Mineealogia (bloco 913) do Departamento de Geologia e aulas práticas no Laboratório de Raios-X (X-Pert MPD – Panalytical)

Universidade Federal do Ceará

Laboratório de Raios-X – LRX

Departamento de Física

Campus do Pici

CEP 60455-970, Fortaleza – CE

Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo:

Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:

8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais

Total: 40 horas

Inscrição:

• Preencher o formulário de inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br

Taxa de inscrição Até 21/3/2014 Após 21/3/2014
Professores universitários e técnicos das indústrias R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais) R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica R$ 200,00 (duzentos reais) R$ 250,00 (duzentos cinquenta reais)

Serão oferecidas somente 30 vagas.

• As 10 primeiras inscrições de professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer duas latas (400g cada lata) de leite em pó. Os alimentos serão doados ao Iprede (Instituto da Primeira Infância), R. Carlos Lobo, 15 – Cidade dos Funcionários, Fortaleza/CE, CEP 60821-740, Tel (85) 3218-4000. (www.iprede.org.br)

• É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:

http://www.raiosx.ufc.br/site/

http://www.astef.ufc.br

Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).

Programação do Curso:

• 31/3/2014 – Segunda-Feira

8:00 – Abertura

8:30 – 12:00

Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.

14:00 – 18:00

Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 1/4/2014 – Terça-Feira

8:00 – 12:00

Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa DBWS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.

14:00 – 18:00

Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).

• 2/4/2014 – Quarta-Feira

8:00 – 12:00

Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).

14:00 – 18:00

Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (DBWS).

• 3/4/2014 – Quinta-Feira

8:00 – 12:00

Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

14:00 – 18:00

Aula experimental: medidas de fluorescência e padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 4/4/2014 – Sexta-Feira

8:00 – 12:00

Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA.

14:00 – 18:00

Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA

18:30 – Confraternização

Material Didático:

• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Apoio:

Realização:

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

No Comments Yet.

Deixe um comentário

Comentário

Complete a imagem abaixo por favor. Fazemos isso para prevenir spams. Obrigado!


Login

Perdeu sua senha?