Fundamentos de Difração de Raios X e o Método Rietveld (IQ/UFBA – Salvador/BA, 21-25 de Julho de 2014)

Participantes

1 Alex Antônio C. Santiago
2 André Luis B. Conceição
3 Antônia Soares Oliveira
4 Artur José Santos Mascarenhas
5 Caio Luis S. Silva
6 Camila Carvalho de O. Santos
7 Carine Pereira da Silva
8 Danilo Oliveira de Santana
9 FERNANDA TEIXEIRA CRUZ SANTOS
10 ICARO FERREIRA DE ABREU
11 Jeferson do Rosário Almeida
12 JULIANA GUERREIRO CEZAR
13 Marcos Vinicius R. dos Santos
14 MAURICIO BRANDÃO DOS SANTOS
15 MAURICIO DE ALMEIDA PEREIRA
16 MILENA DE SANTANA SANTOS
17 Paula Aparecida Lima Lopes
18 Poliana Mousinho M. de Almeida
19 RAILDO ALVES FIUZA JUNIOR
20 Veronica Maria B. Maciel
21 Vilberto Lázaro Martins Nascimento

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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