III Curso do Método Rietveld (Belém/PA, 26-30 de Outubro de 2015)

Instrutores: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Prof. Alan Silva de Menezes (UFMA)
Bsc. Diego Felix Dias (UFC)
Coordenador: Prof. Claudio Márcio Rocha Remédios (UFPA)

Participantes:
1 Anna Sylmara da Costa Lopes
2 Antonio Thiago Madeira Beirão
3 Beatriz Alves Bentes
4 Caio César Amorim de Melo
5 Carla Carolina F. Meneses
6 Delcicleide Costa dos Reis
7 Graziela Cristiane Telles Braga UFPA
8 João Roberto Sousa de Miranda
9 Júlio César Freitas Rosas
10 Junilce Carla da Silva Lobato
11 Kelly Miranda Costa
12 Kelly Silva Oliveira
13 Kleber José Rosario da Silva
14 Leonardo Soares de Oliveira
15 Liliane Nogueira da Silva
16 Luiz Fernando Lobato da Silva
17 Patricia Magalhaes Pereira
18 Pedro Wiulenos Tchalen Silva Torres
19 Regiane Cristina de Oliveira
20 Ricardo de Sousa Ferreira Junior
21 Rodrigo José Modesto da Rocha
22 Rolseli da Rocha Paixão de Almeida
23 Waldomiro Gomes Paschoal Junior

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. O curso será destinado a alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutores:
J.M. Sasaki (Doutor). É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Alan Silva de Menezes (Doutor). É professor Adjunto do Departamento de Física da Universidade Federal do Maranhão (São Luis) desde março de 2012. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” da Unicamp no ano de 2010. Trabalha com crescimento de cristais e síntese de nanopartículas e utiliza o Método Rietveld desde 2001 na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente é Coordenador da Central Analítica de Materiais da UFMA.

Local:
• As aulas serão ministradas no Auditório da Laboratório de Física Pesquisa da UFPA.

• Endereço:
Universidade Federal do Pará
Setor Básico
Rua Augusto Corrêa, 01 – Guamá.
CEP: 66075-110. Belém – PA

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Pré-inscrição e Inscrição:

• Pré-inscrição: Encerrado 15/09/2015

Taxa de inscrição:
Professores universitários e técnicos das indústrias
Até 1/10/2015 R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Após 1/10/2015 R$ 2.000,00 (dois mil reais)

• As inscrições definitivas serão recebidas por email spgf.ccen@ufpa.br até o dia 1o. de Outubro de 2015.
• Serão oferecidas somente 20 vagas.
Todos alunos de pós-graduação e de iniciação científica terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer duas latas (400g cada lata) de leite em pó. Os alimentos serão doados a Casa do Menino Jesus (Casa de apoio a crianças com câncer). Endereço: Travessa Caldeira Castelo Branco – 1403 – Bairro de São Brás, CEP 66063-000, Belém-PA, Fone (91) 3259-0525,
e-mail: casadomeninojesus@gmail.com,
Site http://www.casameninojesus.org.br.
• É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
Pós-Graduação de Física Pesquisa – PPGF

http://www.ppgf.ufpa.br/

Fone: (91) 3201-7430 (Aldeni)
e-mail: spgf.ccen@ufpa.br
Belém – PA

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 10 (dez).

Programação do Curso:
• 26/10/2015 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 27/10/2015 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X (Bruker). Identificação de fases cristalinas, apresentação do programa GSAS1 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS1).

• 28/10/2015 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS1).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS1).

• 29/10/2015 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS1) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA.
14:00 – 18:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS1) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA

• 30/10/2015 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA.
14:00 – 18:00
Aula experimental: aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2) – Prof. Alan Silva de Menezes/UFMA.
18:30 – Confraternização

Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Apoio:

Realização:

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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