Mini-Curso: Introdução ao Método Rietveld, 18-20 de dezembro de 2017, Recife – PE

UFPE

 

 

Palestrante:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Coordenador:
Prof. Celso P. de Melo (UFPE)

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um procedimento indispensável para a caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 3 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a alunos de pós-graduação e pesquisadores da UFPE que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrante:
J.M. Sasaki – É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993, desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala (a ser anunciada) do CCEN e aulas práticas no Centro de Tecnologias Estratégicas do Nordeste (CETENE)

Carga horária:
4 horas de aulas teóricas e 16 horas de tutoriais
Total: 20 horas

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e pesquisadores da UFPE com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Certificado:
Certificado será concedido aos participantes que tenham assegurado presença em pelo menos 80% das aulas, com um desempenho satisfatório nas atividades.

Inscrições:
Número de vagas: 20 (vinte)
Pré-inscrição: de 20/NOV a 01/DEZ de 2017
Confirmação da Inscrição: de 04 a 06/DEZ de 2017
Local:
Secretaria da Pós-Graduação em Ciência de Materiais
Centro de Ciências Exatas e da Natureza, CCEN
Universidade Federal de Pernambuco
50740-560 Recife – PE
Fone: (81) 2126-8412 e-mail: pgmtr@ufpe.br

Apoio:
Rigaku50logo_dotlibCetene

 

 

Programação do Curso:
• 18/12/2017 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 19/12/2017 – Terça-Feira
8:00 – 9:00
Technical speaking
Eng. Químico Pol de Pape
(Rigaku Latin America Ltda)
9:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no CETENE. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica EXPGUI para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Instalação dos programas (HighScore e GSAS)

• 20/12/2017 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

- É OBRIGATÓRIO que cada participante traga seu notebook pessoal.

Material Didático:
• Os participantes receberão todos os programas a serem utilizados durante o curso.

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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