Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Dr. Cássio Morilla dos Santos (SENAI-ISI)
Monitores: Lucas Primo Fernandes Muraro, Lara Domingos Hissa
Coordenador:
Jose Marcos Sasaki
Lista de Participantes
1 Arilton Raimundo Souza Macedo
2 Antonia Daniele Souza Bruno Costa
3 Carina Soares do Nascimento
4 Darbens Silvio Correia Junior
5 Denilson da Silva Lima
6 Egont Alexandre Schenkel
7 Felipe Felix do Carmo
8 Fernanda Nepomuceno Costa
9 Francisco Marcelo Silva
10 Gislayllson Dias dos Santos Souza
11 Isabela Oliveira e Silva
12 João Victor Barbosa Moura
13 José Carlos de Souza Carneiro
14 José César Augusto de Queiroz
15 Luciena dos Santos Ferreira
16 Mariana Oliveira dos Santos
17 Naiane da Silva Santana
18 Nathan Silva da Silva
19 Nubia Ribeiro Machado
20 Paloma Santos Xavier de Alcantara
21 Rafael Alexandre Raimundo
22 Renan Savio de Almeida Coelho
23 Rivaildo Miranda de Andrade
24 Rocicler Oliveira Holanda
25 Rodolpho Mouta Monte Prado
26 Thayse Ricardo da Silva
27 Wellington Viana de Sousa Reis
Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.
Palestrantes:
J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Cássio Morilla dos Santos – (Doutor) é Físico e pós graduado em Ciência e Tecnologia de Materiais, atuando na síntese por meio de rotas Sol-Gel e na caracterização estrutural por difração de raios x associado ao refinamento Rietveld. Atualmente é bolsista de pós-doutoramento no SENAI-ISI em Curitiba.
Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Seminários I (bloco 953) do Centro de Ciências e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD – Panalytical)
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.
Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas
Data limite da pré-Inscrição (28/5/2018):
https://goo.gl/BA3PhK
Data limite da inscrição (30/6/2018):
http://www.cursosfastef.ufc.br/
Taxa de inscrição
Até 30/06/2018
Professores universitários e técnicos das indústrias :R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica :R$ 250,00 (duzentos e cinquenta reais)
Após 30/06/2018
Professores universitários e técnicos das indústrias :R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica :R$ 300,00 (trezentos reais)
• Serão oferecidas somente 20 vagas.
- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.cursosfastef.ufc.br/2018/04/05/ix-metodo-rietveld-de-refinamento-de-estrutura/
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).
Programação do Curso:
• 16/7/2018 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.
• 17/7/2018 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no Laboratório de Raios X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 18/7/2018 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 19/7/2018 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 20/7/2018 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo programa HighScore (Leandro Almeida – Especialista em aplicação XRD-Malvern Panalytical).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura.
18:30 – Confraternização
Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.
Apoio:
