IX Método Rietveld (Fortaleza/CE, 16 a 20 de Julho de 2018)

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Dr. Cássio Morilla dos Santos (SENAI-ISI)
Monitores: Lucas Primo Fernandes Muraro, Lara Domingos Hissa
Coordenador:
Jose Marcos Sasaki

Lista de Participantes

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Cássio Morilla dos Santos – (Doutor) é Físico e pós graduado em Ciência e Tecnologia de Materiais, atuando na síntese por meio de rotas Sol-Gel e na caracterização estrutural por difração de raios x associado ao refinamento Rietveld. Atualmente é bolsista de pós-doutoramento no SENAI-ISI em Curitiba.
Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Seminários I (bloco 953) do Centro de Ciências e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD – Panalytical)

Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (28/5/2018):
https://goo.gl/VBZYEX

Data limite da inscrição (30/6/2018):
http://www.astef.ufc.br

Taxa de inscrição
Até 30/06/2018
Professores universitários e técnicos das indústrias :R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica :R$ 250,00 (duzentos e cinquenta reais)

Após 30/06/2018
Professores universitários e técnicos das indústrias :R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica :R$ 300,00 (trezentos reais)

• Serão oferecidas somente 20 vagas.

- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).

Programação do Curso:
• 16/7/2018 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

• 17/7/2018 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no Laboratório de Raios X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 18/7/2018 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 19/7/2018 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

• 20/7/2018 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Apoio:

Realização:

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

No Comments Yet.

Deixe um comentário

Comentário

Complete a imagem abaixo por favor. Fazemos isso para prevenir spams. Obrigado!


Login

Perdeu sua senha?