24 a 28 de Julho de 2017
Fortaleza – CE
Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Dr. Flávio Machado de Souza Carvalho (Geociências – USP)
Monitores: Thainara Freires Rodrigues, Eduardo Melo de Carvalho Braga, Msc. Diego Felix Dias
Coordenadora:
Dalva Carvalho (ASTEF)
Lista de Participantes
Allan Jedson Menezes de Araujo
André Luiz Araújo Caetano
Cristiano Balbino da Silva
Edgar Alves Araujo Junior
Elisson Andrade Batista
Erik Benigno Crisi de Araujo Fulgêncio
Fábio Furtado Leite
Glageane da Silva Souza
Graciliano da Silveira Batista
Jairo Luís Dos Santos Dutra
Jeanini Jiusti
Lara Domingos Hissa
Luiz Henrique Martinez Antunes
Marcio Luis Ferreira Nascimento
Maria José de S. Serafim
Raimundo Filho
Raimundo Nonato Ribeiro da Silva
Rennáh Francisco Figueiredo Gonçalves
Roniere Leite Soares
Silvio de Cerqueira Mazza
Swarup Kundu
Verônica Cavalcanti Marques
Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.
Palestrantes:
J.M. Sasaki – É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Vera Lucia Mazzocchi – É pesquisadora do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-CNEN/SP), em São Paulo, desde 1985. Trabalha desde 1990 com refinamentos de estruturas cristalinas e magnéticas, utilizando o método de Rietveld, com dados de difração de nêutrons, raios-X convencional e radiação síncrotron. Atualmente é responsável pelo Laboratório de Difratometria de Nêutrons do IPEN.
Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Seminários I (bloco 953) do Centro de Ciências e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD – Panalytical)
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.
Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas
Pré-Inscrição (término 28/5/2017):
http://goo.gl/forms/UrIa1Q29U7f4lI4z1
Inscrição (a partir do dia 5/6/2017):
http://www.astef.ufc.br
• Serão oferecidas somente 20 vagas.
Taxa de inscrição
Até 30/06/2017
Professores universitários e técnicos das indústrias :R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica :R$ 200,00 (duzentos reais)
Após 30/07/2017
Professores universitários e técnicos das indústrias :R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica :R$ 250,00 (duzentos cinquenta reais)
- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).
Programação do Curso:
• 24/7/2017 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.
• 25/7/2017 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no Laboratório de Raios X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica EXPGUI para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 26/7/2017 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 27/7/2017 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
• 28/7/2017 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
18:30 – Confraternização
Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.
Apoio:
