Fundamentos de Difração de Raios X e II Método Rietveld, 25 a 29 de Setembro de 2017, Salvador – BA

Participantes
ANA CAROLINE NEVES DA SILVA
Ana Cristian A. de Magalhães
ANA LUISA COSTA DE CARVALHO
ANDRESA MENEZES SANCHES SOUZA
BRENO CERQUEIRA DA SILVA
CARINE PEREIRA DA SILVA
CAROLINA COSTA FREITAS
DANILLO SANTOS DE O MATA
DANILO KLEBER SANTOS SALES
DARLLEN GUIMARÃES DA SILVA
DENILSON SANTOS COSTA
ERLAN ARAGÃO PACHECO
FELIPE ROCHA ARAUJO
Geciane Alves
GIULYANE FELIX DE OLIVEIRA
Hilma Fonseca
JÉSSICA FRANÇA DE OLIVEIRA
KELLY RODRIGUES DOS SANTOS
LAIZA DE SOUZA SANTOS
Larissa Soares Lima
LEILA SANTANA VIANA BARBOSA
MARIA GORETHE OLIVEIRA BRITO DOS SANTOS
PEDRO MENEZES FRANCA
RODRIGO DA SILVA FRANCO
RUAN SILVEIRA GOMES
TAIANA ANDRADE DA ANUNCIAÇÃO
TALITA MARIA SILVA DE SOUSA
THIAGO ANASTACIO DA SILVA
TUANY NASCIMENTO DOS SANTOS TRINDADE
VANESSA GOMES MATOS
VANESSA PEREIRA GONZAGA SANTOS
Vilberto Lázaro Martins Nascimento
Vivian Oliveira
WILSON BITENCOURT BARRETO JUNIOR

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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