Curso Online do Método Rietveld (Natal/RN, 15/Junho a 22/Julho de 2020)

Curso Online do Método Rietveld (Natal/RN, 15/Junho a 22/Julho de 2020)

Palestrante:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Monitor: Luis Italo Amorim Rodrigues e Diego Felix Dias
Coordenador: Tiago Pinheiro Braga (IQ/UFRN)

Participantes:
ADRIANA PERPETUA FIGUEIREDO PAULISTA
AMANDA SAYURE KASUYA DE OLIVEIRA
ANTONIO MARCELO SILVA LOPES
DANIELE DA SILVA OLIVEIRA
FERNANDO RODRIGO DANTAS
FRANCISCO GUSTAVO HAYALA SILVEIRA PINTO
GLENDA CRISTINA DA SILVA LOPES
GIDIÂNGELA CECÍLIA CAVALCANTE DA SILVA LIMA
JEFFERSON ANDREY LOPES MATIAS
JOHNATAN DE OLIVEIRA SOARES
KERVERSON GOMES DE OLIVEIRA
KEVILLE PEREIRA DE OLIVEIRA
LUIS OTAVIO DE ARAUJO
MANUELA SILVA MARTINS DE OLIVEIRA
RAFAEL BARBALHO DE LIMA
RAMONI RENAN SILVA DE LIMA
THAÍSA TRINDADE DE SOUZA
RANAYANNE SUYLANE PEREIRA
VALDIVINO FRANCISCO DOS SANTOS BORGES
WILLAME GOMES DA SILVA BATISTA

Dia 17/6/2020
Captura de Tela 2020-06-17 às 11.35.03

Captura de Tela 2020-06-17 às 11.35.19

Dia 22/6/2020
Captura de Tela 2020-06-22 às 08.59.13

Captura de Tela 2020-06-22 às 08.59.05

Apoio:

Realização:

lrx

50anos

Informações Gerais:

O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:

J.M. Sasaki - É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local: As aulas teóricas, tutoriais e aulas práticas serão ministradas no Laboratório de Raios X do Departamento de Física da UFC

Universidade Federal do Ceará – UFC
Departamento de Física – UFC
Bloco 928, sala 34
Campus do Pici, CEP 60440-970
Fortaleza – Ceará – Brazil
Telefone: 55 (0xx85) 3366 9013 (sala 34)
Telefone: 55 (0xx85) 3366 9917 (lab.)
FAX: 55 (0xx85) 3366 9450

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária: 32 horas

• Serão oferecidas somente 15 vagas.

- É OBRIGATÓRIO o uso do notebook pessoal.

Maiores Informações:
Prof. Tiago Pinheiro Braga
TEL: 84 3342-2323
EMAIL: tiagoquimicaufrn@gmail.com

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 7 (dez).

Programação do Curso:

Dias 11-12/6/2020 de 8:55-10:35 pelo Google Meet (preparação para o curso)
Reservado para instalação dos programas de identificação de fases, base de dados e o programa de refinamento GSAS.

Dias 15/6/2020 e 17/6/2020 das 8:55-10:35
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico, Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

Dias 22/6/2020 das 8:55-10:35
Apresentação do difratômetro de raios X instalado no Laboratório de Raios X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.

Dias 29/6/2020, 1, 3, 6, 8, 10, 13/7/2020 das 8:55-10:35
Aula experimental: preparação das amostras, medidas dos padrões de difração, envio das medidas, identificação de fases, consulta base de dados e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

Dias 14, 15 e 16/07/2020; 20, 21 e 22/07/2020 das 9:00-11:00
Seminários avaliativos baseado no refinamento realizado pelos alunos. Discussão sobre o relatorio avaliativo.
– Encerramento

Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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