Introdução ao Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
24 de Agosto a 1 de Setembro de 2020
UFAL
Professor
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Monitor
Luis Italo Amorim Rodrigues
Participantes:
1-ALCIVANIA MARIA VIEIRA DE AQUINO
2-ALSON DAVID RODRIGUES DA SILVA
3-BRUNA CAROLINE DE OLIVEIRA BARRAL
4-ELIETE ALMEIDA ALVIN
5-FERNANDA MARIA DOS REIS LIMA
6-GREICY KELLY CERQUEIRA DOS SANTOS
7-JEFFERSON FERREIRA DA SILVA
8-KLEYTON RITOMAR MONTEIRO DA SILVA
9-LÁZARO MACIEL SANTANA JÚNIOR
10-LEONARDO SOBREIRA RODRIGUES
11-NATHÁLIA TALITA CANDIDO DE OLIVEIRA
12-PAULO VITOR FRANÇA LEMOS
13-RAFAEL ANTONIO SANTOS DA SILVA
14-RAYSSA JOSSANEA BRASILEIRO MOTTA
15-RENATO BARBOSA DA SILVA
16-STEFFANO FELIX DE OLIVEIRA SILVA
17-VALCILAINE TEIXEIRA BARBOSA
18-VALERIA RODRIGUES MALTA
Informações Gerais
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. A disciplina será destinado a alunos de pós-graduação da Universidade Federal de Alagoas.
J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Local
As aulas práticas e teóricas no Laboratório de Raios X (X-Pert PRO MPD – Panalytical)
Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
Carga horária
8 horas de aulas teóricas e 22 horas de tutoriais
Total: 30 horas
- É OBRIGATÓRIO o uso notebook pessoal.
Conteúdo
Aula teórica sobre difração de raios X, aula experimental demonstrativa em laboratório e tutorias de refinamento.
Metodologia
- Aulas teóricas e expositivas utilizando conceitos básicos da difratometria de Raios-X;
Aulas “práticas” serão transmitidas por videoconferência com apresentação dos equipamentos, preparação de amostras, execução das medidas e aplicação de software específico;
Identificação de fases cristalinas, apresentação e instalação, pelos participantes, do programa HighScore da Panalytical e utilização das Bases de Dados PDF2 e ICSD/CAPES;
Utilização do programa de refinamento de estrutura GSAS;
Detalhamento dos recursos didáticos a serem utilizados
Será utilizado webcam para filmagem/gravação e a transmissão pela plataforma google meet com o auxílio do software power-point para exposição dos fundamentos teóricos e experimentais. Eventualmente será utilizada a lousa.
Referências
Rietveld HM, Line Profiles of neutron powder-diffraction peaks for structure refinement. Acta Crystallogr., 22, 151-2 (1967).
R.A. Young, The Rietveld Method, Edited by IUCR, Oxford Science Publications,1993.
Avaliação da aprendizagem
A avaliação dos alunos será através de relatório e seminários. Os alunos terão que aplicar o refinamento Rietveld em difratogramas que será enviado pelo professor. Os seminários também vão ocorrer através da plataforma Google Meet.
Material Didático
Os alunos receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.
Programação em anexo
