Método Rietveld em São Carlos/UFSCar (16-20 de dezembro de 2024)

Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
16-20 de Dezembro de 2024
São Carlos – SP

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Monitor: Gleison Neres Marques (UFSCar)

Coordenadora:
Prof. Dra. Lúcia Mascaro (Dep. Química – UFSCar)

Apoio:
-Dairix
-Laboratório de raios-X (UFC)

Realização:
-UFSCar
-Programa de Pós-Graduação em Química

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutor:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas dias 16 E 20, Sala 169 no AT7 (prédio de aulas teóricas na área Norte); dias 17 A 19, auditório Prof. Dr. Mario Tolentino (prédio principal DQ-UFSCar)

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data Limite da Pré-Inscrição (10/12/2024):

Link da pré-inscrição:
Captura de Tela 2024-11-24 às 09.49.42

Maiores Informações:
cursorefinamentorietveld@gmail.com

Programação do Curso:
16/12/2024 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

17/12/2024 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Tecnologia Mineral (Raiosx-lapag) da UFBA. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

18/12/2024 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

19/12/2024 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

20/12/2024 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
18:30 – Confraternização


Material Didático:

Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Written by

J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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