Método Rietveld em Salvador/BA (Data a ser definida)

Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
20-24 de Maio de 2024
Salvador – BA

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)

Coordenador:

Apoio:

Realização:

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutores:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Inscrição:

Maiores Informações:

http://www.raiosx.ufc.br/site/

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).

Programação do Curso:
20/5/2024 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

21/5/2024 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

22/5/2024 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

23/5/2024 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

24/5/2024 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

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J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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