Palestrante:
Prof. Dr. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)

Coordenadores:
profa. Dra Maria José Santos Lima (UFRN)
Prof Dr.Uilame Umbelino Gomes (Dep. Física- UFRN)
Prof. Dr.Marco Antonio Morales Torres (Dep. Física-URN)

Apoio:
RIGAKU
PROJETO Universal/CNPQ, PROCESSO:407484/2023-0

Realização:
PPGF-DFTE-UFRN

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi- Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
PPGF-DFTE-UFRN

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuem em grupos de pesquisa que trabalham com difração de Raios X com interesses em análises estruturais e
quantitativas de fases.

Carga horária:
6 horas de aulas teóricas e 24 horas de tutoriais Total: 30 horas

Pré-Inscrição:

https://forms.gle/ibywf8Ar5G8xuc869

Data limite da inscrição (20/9/2026):

• Serão oferecidas somente 25 vagas.
- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
Maria José Santos Lima – 84 99995-3391
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas de forma online e aulas práticas no Laboratório de DRX e sala de aula (a definir) (DFTE/UFRN)

Programação do Curso:
22, 24 e 25/9/2026 (remoto)
16:00 -18:00
Aula Teórica:
Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico. Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

28/9/2026 – Segunda-Feira (presencial)
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-x no Laboratório de Raios-X (DFTE-UFRN) e aula prática de preparação de amostras.
14:00 – 18:00
Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.

29/9/2026 – Terça-Feira (presencial)
8:00 – 12:00
Refinamento LaB6 – Largura instrumental
14:00 – 18:00
Refinamento de amostra dolomita com 3 fases (quantificação de fases)
14:00 – 18:00
Fitting laboratory X-ray powder data for fluoroapatite
Fitting individual peaks & autoindexing

30/09/2026 – Quarta-Feira (presencial)
8:00 – 12:00
Refinamento de Fluorita, Zincita, Alumina (padrão interno) e quantificação da fase amorfa
CW Neutron Powder fit for Yttrium-Iron Garnet (dados de nêutrons)
14:00 – 18:00
Introdução aos modelos de tamanho e microdeformação (Ferrita de Co) Confraternização

Material Didático:
• Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
MSc. Francisco Willame C. de Vasconcelos
Monitores: Lidia Quirino Rodrigues e Paulo Herbert F. Maia Junior
Coordenador: José Marcos Sasaki

Apoio:
Dairix, Dotlib e Laboratório de Raios-X

Realização:
UFC, Fundação ASTEF e NUTEC

Participantes:
1 Adriano dos Guimarães de Carvalho
2 Ari Lucas Santos Oliveira
3 Bruna Rafaela Silva Ibiapina
4 Camila Rêgo de Andrade
5 Carlos Maurício de Sousa
6 Cláudio de Oliveira Almeida Castro
7 Daniel de Abreu Cesidio
8 Erika Patricia Chagas Gomes Luz
9 Evilarde Carvalho Uchoa Filho
10 Fagner Campos dos Santos
11 Francisco Romero Araújo Nogueira
12 Gabrieli Lessa Parrilha
13 Gustavo Vieira Freire
14 Jérsica Lima Bezerra
15 Laura Jineth Zipa Romero
16 Leonardo Marchiori
17 Leonídio Rodrigo Fernandes Custodio
18 Lucas Medeiros de França
19 Lwzardy Antônio Freitas de Azevedo
20 Maria Natália Mouta de Oliveira
21 Maria Zilda Oliveira
22 Patricia dos Santos Rocha Gomes
23 Ricardo Francisco Alves
24 Rosembergue Gabriel Lima Gonçalves
25 Theresa Beatriz Oliveira Nunes
26 Thiago Dias de Araújo e Silva

Fotos:

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

MSc. Francisco Willame Coelho de Vasconcelos – Graduado em Licenciatura Plena em Física pela Faculdade de Educação Ciências e Letras do Sertão Central – FECLESC/UECE, Mestre em Engenharia e Ciência de Materiais pela Universidade Federal do Ceará – UFC e atualmente doutorando em Engenharia em Ciências de Materiais pela mesma instituição. Membro dos laboratórios de Difração de Raios-X da UFC e do Laboratório de Fotônica – IFCE. Experiência abrange a área de Física e Engenharia de Materiais, com foco em difração de raios-X, caracterização de nanopartículas magnéticas, método Rietveld e desenvolvimento de sensores magnéticos e de corrente utilizando fibras ópticas.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas no Auditório Telmo Bessa (NUTEC).
NUTEC-Núcleo de Tecnologia e Qualidade Industrial do Ceará
https://www.nutec.ce.gov.br/
R. Prof. Rômulo Proença, s/n – Bairro Pici
CEP: 60440-552 Fortaleza – CE
Fone: (85) 98105-7481

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (3/7/2026):

https://forms.gle/nmt9oWb8CUs39KPE9

Data limite da inscrição (31/7/2026):
http://www.fastef.ufc.br
Serão oferecidas somente 20 vagas.

Taxa de inscrição:
-Até 31/7/2026
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 300,00 (trezentos reais)

-Após 31/7/2026
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 350,00 (trezentos e cinquenta reais)

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Os professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC deverão trazer 2 latas de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 380g). Os alimentos serão doados ao Instituição Espírita Nosso Lar, Av. Carapinima, 2424, Benfica, Fortaleza – CE, CNPJ: 07.287.865/0001-20, Fone: (85) 98152-8395/(85) 3206.3550, (https://www.nossolarhospital.com.br/),

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.fastef.ufc.br
Tel: (85) 3366-9612/98818-4114/99177-3788

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 10 (dez).

Programação do Curso:
3/8/2026 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

4/8/2026 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-x SmartLab (Rigaku) instalado no NUTEC e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

5/8/2026 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

6/8/2026 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

7/8/2026 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software SmartLab Studio (Exemplos de aplicação da Rigaku/Dairix).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)

Coordenadores: Profa.Tâmara Vieira Reis e Prof. Renato Carlos Vieira Santiago

Apoio:

Realização:

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutor:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Inscrição:
Preencher o formulário de inscrição que se encontra na homepage http://www.astef.ufc.br

Serão oferecidas somente 30 vagas.
As 10 primeiras inscrições de funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC terão isenção da taxa de inscrição, e deverão trazer duas latas (400g cada lata) de leite em pó. Os alimentos serão doados ao Iprede (Instituto da Primeira Infância), R. Carlos Lobo, 15 – Cidade dos Funcionários, Fortaleza/CE, CEP 60821-740, Tel (85) 3218-4000. (www.iprede.org.br)

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:

http://www.raiosx.ufc.br/site/

http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/9622-0303 (Dalva ou Alessandra)

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).

Programação do Curso:
31/8/2026 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

1/9/2026 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Raios-X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

2/9/2026 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

3/9/2026 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

4/9/2026 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Palestrante:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Coordenadores: prof. Tiago Pinheiro Braga (UFRN) e profa. Ana Cecília Vieira da Nóbrega (UFRN)

Apoio:
LRX/UFC

Realização:
UFRN e PROEX

Participantes:
Amanda Menezes Caldas Monastirski
Andrielle Gomes da Silva
Angelo Araújo Soares
Daniel Rodrigues Freire Ramos
Gleidson dos Santos Melo
Joel Rodrigues Silva
Leydson Wendell Carneiro da Silva
Luis Paulo Alves da Silva
Magno Klebson Augustinho Sena
Maria José Santos Limas
Mariana Alves Leite Dutra
Rafael Sávio Ribeiro de Oliveira

Fotos

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrante:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de informática no Instituto de Química 3 (segundo andar) do Centro de Ciências da UFRN e aulas práticas no Laboratório de Raios-X do LABCIM (Instituto de Química 2) do Centro de Ciências.

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuem em grupos de pesquisa que trabalham com difração de Raios X com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (05-04-2026):

Data limite da inscrição (1/5/2026):

Serão oferecidas somente 20 vagas.

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
tiago.braga@ufrn.br

Programação do Curso:
4/5/2026 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

5/5/2026 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
-Apresentação do difratômetro de raios-x no Laboratório de Raios-X (LABCIM-UFRN) e aula prática de preparação de amostras.
-Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

6/5/2026 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

7/5/2026 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

8/5/2026 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
-Aula teórica sobre difração de neutrons/raios-X
-Determinação de estruturas cristalinas e estruturas magnéticas comensuráveis (CrSbSe₃.cif)
-Simulação de difração de nêutrons utilizando o GSAS-II
-Refinamento estrutural de uma ferrita do tipo espinélio, resolução da estrutura magnética.

17:00-Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Coordenadora: Ana Candida de Almeida Prado (UFCA)

Apoio:
Malvern Panalytical, Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais da Universidade Federal do Cariri (PPGCEM/UFCA) e LRX/UFC

Realização:
Universidade Federal do Cariri e Fundação ASTEF

Participantes:

Fotos

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrante:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas nas dependências da Universidade Federal do Cariri.

Universidade Federal do Cariri
Av. Tenente Raimundo Rocha Nº 1639
Bairro Cidade Universitária
Juazeiro do Norte – Ceará
CEP 63048-080

Público Alvo:
Docentes, Técnicos e Estudantes de Mestrado e Doutorado e demais profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (15/08/2025):
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSdqsaFh-VGFWBbrdyAVMsPre2sBLSPu5EYjedOoQ9VN3WG9rw/viewform?usp=dialog

Serão oferecidas somente 30 vagas.

Taxa de inscrição até 15/09/2025
Estudantes de graduação – R$ 50,00
Estudantes de pós-graduação – R$ 150,00
Técnicos de instituições de ensino – R$ 200,00
Docentes ou profissionais da indústria – R$ 300,00

Taxa de inscrição entre 16/09/2025 e 01/10/2025
Estudantes de graduação – R$ 75,00
Estudantes de pós-graduação – R$ 200,00
Técnicos de instituições de ensino – R$ 275,00
Docentes ou profissionais da indústria – R$ 400,00

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
Tel: (85) 3366-9917/9013 e (88) 3221-9572
e-mail: ana.prado@ufca.edu.br

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (dez).

Programação do Curso:
6/10/2025 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

7/10/2025 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do novo difratômetro de raios-x Xpert Panalytical instalado no Laboratório de Raios-X (Departamento de Física-UFC) e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

8/10/2025 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

9/10/2025 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

10/10/2025 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software da Panalytical HighScore.
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Carlos Henrique Nascimento Cordeiro (Dep. Física-UFC)
Monitores: Matheus Rodrigues Araujo e Lidia Quirino Rodrigues
Coordenador: José Marcos Sasaki

Apoio:
Dairix, Dotlib e Laboratório de Raios-X

Realização:
UFC, Fundação ASTEF e NUTEC

Participantes:
1 Antonio Jefferson Mangueira Sales
2 Arquimedes Moraes Souza Coutinho
3 Bill Darwin Aparicio Hucarpuma
4 Caio Henrique Pinheiro
5 Carlson Nazareth
6 Fátima Andréa Lima Girão
7 Janaina Sobreira Rocha
8 Jessica de Sousa Cardoso
9 Joao Dionizio de Melo Neto
10 João Pedro Santana Mota
11 José César Augusto de Queiroz
12 Juliani Penha Caland
13 Mayron Silva Castro
14 Naedja Vasconcelos Pontes
15 Paulo Herbert França Maia Junior
16 Rafaelly Rodrigues Barbosa
17 Rayssa Layza Lima Xavier
18 Sabrina de Brito Figueira
19 Suliane Chagas de Oliveira
20 Wesley de Paiva Araujo

Fotos

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Carlos Henrique Nascimento Cordeiro – Possui graduação e mestrado em Física pela Universidade do Estado do Rio Grande do Norte. Atualmente é Doutorando em Física pela Universidade Federal do Ceará e atua principalmente na área de caracterização de filmes finos policristalinos por difração de raios X usando a teoria dinâmica da difração. Tem experiência na área de Física da matéria condensada, com ênfase na preparação, estudo das propriedades estruturais e magnéticas de nanopartículas magnéticas, nanocompósitos magnéticos, ferritas, hexaferritas. Desenvolve pesquisa para a produção e caracterização de materiais avançados obtidos a partir de minerais.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas no Auditório Telmo Bessa (NUTEC).
NUTEC-Núcleo de Tecnologia e Qualidade Industrial do Ceará
https://www.nutec.ce.gov.br/
R. Prof. Rômulo Proença, s/n – Bairro Pici
CEP: 60440-552 Fortaleza – CE
Fone: (85) 98105-7481

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (25/7/2025):
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLScsSKfw6bn7sL5rZgNl5J55Gykr2aOuy8-YF1pkvoXHtrnq3g/viewform?usp=dialog

Data limite da inscrição (1/8/2025):
http://www.fastef.ufc.br
Tel: (85) 3366-9612/98818-4114/99177-3788
Serão oferecidas somente 30 vagas.

Taxa de inscrição:
-Até 1/8/2025
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 300,00 (trezentos reais)

-Após 1/8/2025
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 350,00 (trezentos e cinquenta reais)

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Os professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC deverão trazer 2 latas de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 380g). Os alimentos serão doados ao Instituição Espírita Nosso Lar, Av. Carapinima, 2424, Benfica, Fortaleza – CE, CNPJ: 07.287.865/0001-20, Fone: (85) 98152-8395/(85) 3206.3550, (https://www.nossolarhospital.com.br/),

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/
Tel: (85) 3366-9013/3366-9917

Nota 1: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).
Nota 2: Será sorteado um kit das 14 Redes de Bravais (impressão 3D) https://en.wikipedia.org/wiki/Bravais_lattice.

Kit das 14 Rede de Bravais

5/8/2025 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do novo difratômetro de raios-x SmartLab (Rigaku) instalado no NUTEC e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

6/8/2025 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

7/8/2025 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

8/8/2025 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software SmartLab Studio (Exemplos de aplicação da Rigaku/Dairix).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Monitor: Gleison Neres Marques (UFSCar)

Coordenadora:
Prof. Dra. Lúcia Mascaro (Dep. Química – UFSCar)

Apoio:
-Dairix
-Laboratório de raios-X (UFC)

Realização:
-UFSCar
-Programa de Pós-Graduação em Química

Participantes:
1 Ana Luiza de Camargo Doimo
2 Anelisse Brunca da Silva
3 Arquiminio Bomfim da Silva Neto
4 Arthur Martins Gabriel
5 Caio Vinícius da Silva Almeida
6 Davi Souza Ferreira
7 Dyovani Coelho
8 Eduardo Arizono dos Reis
9 Eloá Rodrigues Mestriner
10 Eryka Thamyris Damascena Nóbrega
11 Filipe Gonçalves da Silva
12 Gabriel Franco
13 Giovanna de Amorim Grasser
14 Guilherme Augusto Arioli
15 Guilherme Henrique Cruvinel
16 Henrique Piccoli Moreno
17 Jéssica Cristina de Almeida
18 Kelvin Costa de Araujo
19 Laura Ordonho Líbero
20 Lucas Henrique Rebuiti Passos
21 Lukas Gomes Gadelha Vieira Santos
22 Maria Inês Basso Bernardi
23 Maria Luiza Lopes Sierra e Silva
24 Marina Medina
25 Matheus Gabriel Guardiano dos Santos
26 Matheus Macedo de Brito
27 Nathan dos Santos Moreira
28 Nilson Tadeu Camarinho de Oliveira
29 Raphaella Fagundes Von Stein
30 Regiane Cristina de Oliveira
31 Roberta Yonara Nascimento Reis
32 Roger Gonçalves

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutor:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas dias 16 E 20, Sala 169 no AT7 (prédio de aulas teóricas na área Norte); dias 17 A 19, auditório Prof. Dr. Mario Tolentino (prédio principal DQ-UFSCar)

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data Limite da Pré-Inscrição (10/12/2024):

Link da pré-inscrição:


Maiores Informações:
cursorefinamentorietveld@gmail.com

Programação do Curso:
16/12/2024 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

17/12/2024 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Tecnologia Mineral (Raiosx-lapag) da UFBA. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

18/12/2024 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

19/12/2024 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

20/12/2024 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Instrutor: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)

Coordenadores:
Raildo Alves Fiuza
Renato Carlos Vieira Santiago
Tâmara Vieira Reis

Apoio e Realização:
-Programa de Pós-Graduação em Química
-Programa de Pós-Graduação em Geologia
-Dotlib

Participantes:
1 Adnaildo Miranda Mota
2 Bruna Souza Rosa
3 Cláudia Lisiane Fanese da Rocha de Resende
4 Cristine de Almeida Pereira
5 Dâmaris Moreira dos Santos
6 Denilson Santos Costa
7 Edinilson Ramos Camelo
8 Elias Paiva Ferreira Neto
9 Ernesto Domingos Victorino
10 Fernanda Teixeira Cruz
11 Ib Silva Camara
12 Igor Rodrigues Neves
13 Janaina Santos Matos
14 Jorge Arce Castro
15 Kaio Ariel Silva Sá
16 Lana Santos Silva Bezerra
17 Lucas Santiago Ferrão
18 Matheus Andrade Nascimento
19 Mauricio Brandão dos Santos
20 Mauricio Brito Huttner
21 Najara Santana
22 Raildo Alves Fiuza Junior
23 Renato Carlos Vieira Santiago
24 Susane Eterna Leite Medeiros
25 Sylvio Dutra Gomes
26 Tâmara Vieira Reis
27 Tatiana Silva Ribeiro
28 Wilson Sousa Merces Neto

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos (DRX e FRX) pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutor:
J.M. Sasaki (Doutor) É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Local:

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Link da pré-inscrição:
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSe3FDwBfFoOkm_ACIHvyCR9WDEjpEyRNw0KmvKo32GOuPX1UQ/viewform?usp=pp_url

Maiores Informações:
http://www.raiosx.ufc.br/site/

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).

Programação do Curso:
21/10/2024 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

22/10/2024 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X instalado no Laboratório de Tecnologia Mineral (Raiosx-lapag) da UFBA. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

23/10/2024 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

24/10/2024 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

25/10/2024 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Francisco Willame Coelho de Vasconcelos (PPG Materiais-UFC)
Monitores: Matheus Rodrigues Araujo e Lidia Quirino Rodrigues (PPG Materiais-UFC)
Coordenador: José Marcos Sasaki

Apoio:
Dairix
Dotlib
Laboratório de Raios-X/UFC
Realização:
FASTEF

Participantes:
1 Adriano Jorge Sombra Júnior
2 Ailton José Moreira
3 Antonio Leonardo Viana
4 Ecliton Jose da Silva Medeiros (online)
5 Edson Araujo de Almeida (online)
6 Erick Thiago Costa de Andrade
7 Fabio Caixeta Nunes (online)
8 Gleison Neres Marques
9 Jéssica Braga de Araújo
10 Jhonatam Pinheiro Mendonça
11 João Felipe Campanaro (online)
12 José Igor Gonçalves da Silva
13 José Valderisso Alfredo de Carvalho
14 Juliana Bruzaca Lima
15 Lawrence Barreto Sa
16 Lúcio Rafael Ferreira de Sousa
17 Marco Aurélio Suller Garcia
18 Marina Arbex de Castro Lima
19 Miguel Adriano Gonçalves Cirino
20 Rafael Augusto Ventura
21 Raphael Ribeiro da Silva
22 Ronilson Lopes Brito
23 Samuel Chaves dos Santos
24 Satomi Murayama Chaar (online)
25 Yan Mathaus Ramos Pestana
26 Yuri Gomes dos Santos

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Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Ms. Francisco Willame Coelho de Vasconcelos – Graduado em Licenciatura Plena em Física pela Faculdade de Educação Ciências e Letras do Sertão Central – FECLESC/UECE, Mestre em Engenharia e Ciência de Materiais pela Universidade Federal do Ceará – UFC e atualmente doutorando em Engenharia em Ciências de Materiais pela mesma instituição. Membro dos laboratórios de Difração de Raios-X da UFC e do Laboratório de Fotônica – IFCE. Experiência abrange a área de Física e Engenharia de Materiais, com foco em difração de raios-X, caracterização de nanopartículas magnéticas, método Rietveld e desenvolvimento de sensores magnéticos e de corrente utilizando fibras ópticas.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala 12 (Bloco 717) do Centro de Tecnologia e aulas práticas no LRX-Laboratório de Raios-X (Bloco 929) do Centro de Ciências.
https://maps.app.goo.gl/29PecfB6HmBx9tfL8

Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (16/6/2024):
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSd5y9Rq0nQjeWFBJoRqTQImIaRIACXuRQJO_e4ye0pd0aH1Mg/viewform?usp=pp_url

Data limite da inscrição (16/08/2024) (26/09/2024):
http://www.fastef.ufc.br

Serão oferecidas somente 25 vagas sendo: 20 participantes de forma presencial e 5 de forma remota.

Taxa de inscrição:
Até 26/09/2024
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 300,00 (trezentos reais)

Após 26/09/2024
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 350,00 (trezentos e cinquenta reais)

- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
- Será exigido de cada participante externo (forma remota) dois monitores para acompanhar o curso.
Os professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC deverão trazer 2 latas de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 380g). Os alimentos serão doados ao IPREDE-Instituto da Primeira Infância (http://iprede.com.br/), Rua Professor Carlos Lobo, 15, Cidade dos Funcionários, Fortaleza – CE, CEP 60821-740, Tel. (85)3218-4000.

Maiores Informações:
Tel: (85) 3366-9612/98818-4114/99177-3788

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 10 (quinze).

Programação do Curso:
30/9/2024 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

01/10/2024 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do novo difratômetro de raios-x Xpert Panalytical instalado no Laboratório de Raios-X (Departamento de Física-UFC) e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

02/10/2024 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

03/10/2024 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

04/10/2024 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software da Rigaku PDXL (Exemplos de aplicação da Rigaku/Dairix).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

Instrutores: Prof. José Marcos Sasaki (UFC)
Prof. Alex Junior de Freitas Cabral (UFOPA)

Coordenador: Prof. Alex Junior de Freitas Cabral (UFOPA)

Apoio:

Realização:

[Show as slideshow]

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. O curso será destinado a alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Instrutores:
J.M. Sasaki (Doutor). É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Alex Junior de Freitas Cabral (Doutor). Possui graduação em Licenciatura em Física pela Universidade Federal do Pará (2007), mestrado em Física pela Universidade Federal do Pará (2010) e doutorado em Física pela Universidade Federal do Pará (2015). Trabalha com a síntese e caracterização de óxidos magnéticos e compostos relacionados.

Local:
As aulas serão ministradas no Instituto de Engenharia e Geociências da UFOPA.
Endereço:
Rua Vera Paz, s/n (Unidade Tapajós)
Bairro Salé
CEP 68040-255
Santarém, Pará, Brasil
Homepage: http://www.raiosx.ufc.br/site/?p=3615

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado, Iniciação Científica e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas
Pré-inscrição e Inscrição:
Pré-inscrição
Até 15/11/2023
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSeLFshGiN7DkqWDzyi6MWGDjLlC2ALaWbvc5nlgrhuibiYVjQ/viewform?usp=pp_url

Taxa de inscrição
Técnicos de indústrias
Até 25/11/2023
R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Após 25/11/2023
R$ 2.000,00 (dois mil reais)

Após o período de pré-inscrição, os candidatos selecionados irão receber a confirmação do aceite por email. No caso positivo, será enviado o link para efetuar a inscrição por meio de pagamento de boleto bancário gerado no site da FIAM.
FUNDAÇÃO DE INTEGRAÇÃO AMAZÔNICA – FIAM
ENDEREÇO: Rua Santana, nº 24 – BAIRRO: Salé
MUNICÍPIO: Santarém – Pará
CEP: 68040-200
As inscrições definitivas serão recebidas até o dia 25 de Novembro de 2023.
Serão oferecidas somente 20 vagas, sendo que 10 vagas isentas da taxa de inscrição serão disponibilizadas exclusivamente para alunos de graduação, pós-graduação, professores e técnicos da UFOPA. Os 10 isentos deverão trazer dois pacotes de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 800g). Os alimentos serão doados à Creche Seara.
Endereço: Rua Nações Unidas, 114 – Bairro Santana, CEP 68010-320, Santarém, PA, fone (93) 3523-2309

É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Serão seguidos os protocolos de segurança contra o Coronavírus (uso de álcool, máscaras e distanciamento). O material de higienização será disponibilizado.

Maiores Informações:
O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição se o número de participantes for menor que 10 (dez).

Programação do Curso:
4/12/2023 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios-x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

5/12/2023 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do difratômetro de raios-X. Identificação de fases cristalinas, apresentação do programa GSAS2, X’pert HighScore e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Tutorial: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

6/12/2023 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Tutorial: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 168:00
Tutorial: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

7/12/2023 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Tutorial: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Tutorial: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

8/12/2023 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Tutorial: medidas de padrões de difração pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 16:00
Tutorial: Apresentação comercial (Bruker)
18:30 – Confraternização

Material Didático: Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.