XIV Método Rietveld em Fortaleza (30 de setembro a 4 de outubro de 2024)

XIV Método Rietveld de Refinamento de Estrutura
26-30 de Agosto de 2024
30 de setembro a 4 de outubro de 2024
Fortaleza – CE

Palestrantes:
Prof. José Marcos Sasaki (Dep. Física-UFC)
Francisco Willame Coelho de Vasconcelos (PPG Materiais-UFC)
Monitores: Matheus Rodrigues Araujo e Lidia Quirino Rodrigues (PPG Materiais-UFC)
Coordenador: José Marcos Sasaki

Apoio:
Dairix
Dotlib
Laboratório de Raios-X/UFC
Realização:
FASTEF

Participantes:
1 Adriano Jorge Sombra Júnior
2 Ailton José Moreira
3 Antonio Leonardo Viana
4 Ecliton Jose da Silva Medeiros (online)
5 Edson Araujo de Almeida (online)
6 Erick Thiago Costa de Andrade
7 Fabio Caixeta Nunes (online)
8 Gleison Neres Marques
9 Jéssica Braga de Araújo
10 Jhonatam Pinheiro Mendonça
11 João Felipe Campanaro (online)
12 José Igor Gonçalves da Silva
13 José Valderisso Alfredo de Carvalho
14 Juliana Bruzaca Lima
15 Lawrence Barreto Sa
16 Lúcio Rafael Ferreira de Sousa
17 Marco Aurélio Suller Garcia
18 Marina Arbex de Castro Lima
19 Miguel Adriano Gonçalves Cirino
20 Rafael Augusto Ventura
21 Raphael Ribeiro da Silva
22 Ronilson Lopes Brito
23 Samuel Chaves dos Santos
24 Satomi Murayama Chaar (online)
25 Yan Mathaus Ramos Pestana
26 Yuri Gomes dos Santos

Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS2. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.

Palestrantes:
Dr. J.M. Sasaki – É professor titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física “Gleb Wataghin” no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

Ms. Francisco Willame Coelho de Vasconcelos – Graduado em Licenciatura Plena em Física pela Faculdade de Educação Ciências e Letras do Sertão Central – FECLESC/UECE, Mestre em Engenharia e Ciência de Materiais pela Universidade Federal do Ceará – UFC e atualmente doutorando em Engenharia em Ciências de Materiais pela mesma instituição. Membro dos laboratórios de Difração de Raios-X da UFC e do Laboratório de Fotônica – IFCE. Experiência abrange a área de Física e Engenharia de Materiais, com foco em difração de raios-X, caracterização de nanopartículas magnéticas, método Rietveld e desenvolvimento de sensores magnéticos e de corrente utilizando fibras ópticas.

Local:
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala 12 (Bloco 717) do Centro de Tecnologia e aulas práticas no LRX-Laboratório de Raios-X (Bloco 929) do Centro de Ciências.
https://maps.app.goo.gl/29PecfB6HmBx9tfL8

Universidade Federal do Ceará
Laboratório de Raios X – LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013

Público Alvo:
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.

Carga horária:
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas

Data limite da pré-Inscrição (16/6/2024):
https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSd5y9Rq0nQjeWFBJoRqTQImIaRIACXuRQJO_e4ye0pd0aH1Mg/viewform?usp=pp_url

Data limite da inscrição (16/08/2024) (26/09/2024):
http://www.fastef.ufc.br

Serão oferecidas somente 25 vagas sendo: 20 participantes de forma presencial e 5 de forma remota.

Taxa de inscrição:
Até 26/09/2024
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 300,00 (trezentos reais)

Após 26/09/2024
Professores universitários e técnicos das indústrias
R$ 2.000,00 (dois mil reais)
Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
R$ 350,00 (trezentos e cinquenta reais)

- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
- Será exigido de cada participante externo (forma remota) dois monitores para acompanhar o curso.
Os professores, funcionários e alunos (mestrado e doutorado) da UFC deverão trazer 2 latas de leite em pó (Leite em pó integral instantâneo 380g). Os alimentos serão doados ao IPREDE-Instituto da Primeira Infância (http://iprede.com.br/), Rua Professor Carlos Lobo, 15, Cidade dos Funcionários, Fortaleza – CE, CEP 60821-740, Tel. (85)3218-4000.

Maiores Informações:
Tel: (85) 3366-9612/98818-4114/99177-3788

Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 10 (quinze).

Programação do Curso:
30/9/2024 – Segunda-Feira
8:00 – Abertura
8:30 – 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 – 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.

01/10/2024 – Terça-Feira
8:00 – 12:00
Apresentação do novo difratômetro de raios-x Xpert Panalytical instalado no Laboratório de Raios-X (Departamento de Física-UFC) e aula prática de preparação de amostras.

Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica para o programa GSAS2 e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

02/10/2024 – Quarta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

03/10/2024 – Quinta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).

04/10/2024 – Sexta-Feira
8:00 – 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS2).
14:00 – 18:00
Aula experimental: Refinamento de estrutura pelo Software da Rigaku PDXL (Exemplos de aplicação da Rigaku/Dairix).
18:30 – Confraternização

Material Didático:
Os participantes receberão todos programas que serão utilizados durante o curso.

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J.M. Sasaki (Doutor) É professor Titular do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios-X usando radiação síncrotron, teoria dinâmica da difração e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.

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